15800509017
產品中心
當前位置：首頁 > 產品中心 > > Keithley 儀器和產品 > Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
簡要描述：使用 4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。使用4200A-SCS 參數分析儀進行1/f 電流噪聲測量直播回放：寬禁帶半導體材料及功率半導體器件測試方案直播回放：1/f噪聲測試方案詳解在您的 PC 上免費試用。
產品型號：廠商性質：代理商更新時間：2025-06-03訪 問 量：939詳細介紹
推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50％，從而實現的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業知識提供的測試指導，并讓您對最終結果充滿信息。
特點
使用吉時利的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業的 CVU 架構中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。
特點
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得最準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。
特點
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或一個電話即可獲得維修服務，在此過程中，無需報價或填寫采購單，也不會有審批延誤。
了解詳情
| 產品技術資料 | 型號 | 描述 | 價格 |
|---|---|---|---|
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 | 4200A-SCS：參數分析儀主機 4201-SMU：兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA：一個預放大器 8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：參數分析儀主機 4201-SMU：兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA：一個預放大器 4215-CVU：一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：參數分析儀主機 4201-SMU：兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4211-SMU：兩個用于高容量設置的高功率 SMU 4200-PA：兩個預放大器 4215-CVU：一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用硅 CMOS 技術進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括：
| 索取報價 |
生物傳感器或 bioFET 將對分析物的生物響應轉換為電信號。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個用于測試 bioFET 的項目。以此為起點檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性，并從這里展開工作。
下載生物傳感器應用指南以開始使用
使用 4215-CVU 模塊測量亞毫微微法拉電容。通過驅動 1 V AC，在測量 1 fF 電容器時，4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測量電容和提取重要參數的數十種應用程序之一。
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
進行電容和交流阻抗測量
特點
通過全面脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術。 4200A-SCS 為 NVRAM 技術提供支持和即用型測試，從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態和 I-V 域檢定。
評估 MOSFET 設備的熱載波感應劣化
用于非易失內存測試的單納秒脈沖解決方案
非易失內存技術脈沖 I-V 檢定
采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術分析高電阻樣本的電容。 該技術可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現應用，同時可與 4210-CVU 結合使用，執行更高頻率測量。
4200A-SCS 參數分析儀可在高阻抗設備上執行極低頻電容-電壓測量
簡化 MOSFET/MOSCAP 設備檢定的提示和技術
特點
當測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時，請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關矩陣或任何其他大型或復雜的測試儀。現場可安裝版本使您無需將設備返回服務中心即可增加容量。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通過高測試連接電容進行穩定的低電流測量
使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過四點同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。 內含測試可自動重復執行范德堡計算，節省您寶貴的研究時間。 10aA 的電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準確和精準的結果。
4200A-SCS 參數分析儀和四點同軸探頭可用于執行半導體材料電阻率測量
4200A-SCS 參數分析儀可用于執行范德堡和霍爾電壓測量
4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過組件或晶圓測試執行全面的 MOS 設備檢定。 內含測試和項目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動離子濃度等問題。 只需觸摸一個儀器盒中的按鈕，即可運行所有這些測試。
4200A-SCS 參數分析儀可用于執行 MOS 電容 C?V 檢定
| 產品技術資料 | 模塊 | 描述 | 配置和報價 |
|---|---|---|---|
| 查看產品技術資料 | 4200-SMU | 中功率源測量單位 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200-BTI-A | 超快速 BTI 包 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200-PA | 遠程預放大器模塊 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200A-CVIV | IV CV測試切換開關 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4201-SMU | 中功率源測量單元 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4210-SMU | 大功率源測量單元 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4211-SMU | 高功率源測量單元 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4215-CVU | 電容電壓CV測量單元 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4220-PGU | 高電壓脈沖發生器單元 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4225-PMU | 超快速脈沖IV測量單元 | 配置和報價 |
| 查看產品技術資料 | 4225-RPM | 遠程預放大器/開關模塊 | 配置和報價 |
Keithley 自動化檢定套件 (ACS) 可控制您的設備。無論您是需要控制工作臺上的幾臺儀器，還是需要自動化整個測試機架以進行生產，ACS 均能為設備檢定、參數測試、可靠性測試和簡單的功能測試提供靈活的交互式環境。
開始自動化
通過 Clarius+ 軟件套件，您可以輕松獲得材料和設備的檢定洞察。Clarius 在 4200A-SCS 上本地運行，可規劃、配置和分析測試結果。此外，還可將 Clarius 安裝在任何 Windows 10 PC 上，以便在實驗室中運行測試之前規劃和配置測試，或在收集數據后分析數據。
立即下載
產品咨詢
掃碼加微信